![]() |
Главная -> Силовые полупроводниковые приборы 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 101 102 103 104 105 106 107 108 109 110 111 112 113 [114] 115 116 117 118 119 120 121 122 123 124 125 126 127 128 129 130 131 132 133 134 135 136 137 138 139 140 141 142 143 t всегда можно записать t-tQ, где <о-параметр сдвига. Математически это означает, что соответствующее распределение (т. е. любая из функций R, F, /, X) сдвинуто вправо на о- Рассмотрим ряд конкретных данных по моделям ИО СПП. Типичные зависимости ИО от времени приведены на рис. 8.6. В табл. 8.2 представлены данные результатов работ различных авторов, которые вюпочают сведения как об эксплуатационной, так и о лабораторной надежности. В целом о моделях надежности СПП во время периода приработки можно сказать следующее. Длительность периода приработки для СПП колеблется от 100 до 8000 ч, причем значение его в целом уменьшается при ужесточении режима работы приборов. Для построения моделей функции ИО в отечественной практике используются два распределения: Вейбулла и Макегама. В случае применимости распределения Вейбулла параметр формы Р находится в диапазоне 0,4-0,67 [8.8]. Анализ публикации [8.9] показывает, что при лабораторных испытаниях в выпрямительном режиме длительность периода приработки у зарубежных приборов аналогична отечественной. Вопрос о том, как практически определить, есть или нет период приработки, каким законом распределения он лучше описывается, каковы параметры этого распределения и т. п., будет рассмотрен далее. Здесь следует лишь подчеркнуть, что модели надежности, описывающие ход функций ИО во время периода приработки, применимы только при ttf Для описания периода нормальной эксплуатации используют самое популярное в надежности распределение-экспоненциальное. Из табл. 8.1 видно, что ему соответствует постоянная ИО. Этот период жизни прибора, как правило, много больше периода приработки и поэтому он представляет максимальный интерес для потребителя. Что же касается периода старения, то его для СПП, по-видимому, никто не наблюдал. Это может быть вызвано тем, что значение t в правильно выбранных схемах и РЭ для хороших приборов превышает 10 ч, что составляет более И лет непрерывной эксплуатации. За это время обычно оборудование устаревает, и приборы заменяют на новые. Отсутствие конкретных данных о периоде старения СПП означает, что нам неизвестны ни отечественные, ни зарубежные публикации, в. которых наблюдалось бы изменение характера фуршции ИО от постоянной (или убывающей) к монотонно возрастающей. В отличие от этого данные о процессах деградации параметров приборов достаточно многочисленны [8.14]. Как правило, на основе этих данных устанавливают численные значения таких показателей долговечности, как у-процентный ресурс и (или) срок службы. В частности, для тиристоров типа ТВ-200 на основании данных многолетних Таблица 8.1. Сводка основных законов распределения, используемых в задачах
теории надежности. Непрерывное распределение ИО щ Графическое изображение функции (г) Среднее значение; днсперсня: t; о g-(-n)V2cj aj2n ![]() Mtit) ![]() te Ре" ![]() ег,(1 + 1/р)**; - е Ц ![]() v-0,5776; 1,645л 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43 44 45 46 47 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 59 60 61 62 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 82 83 84 85 86 87 88 89 90 91 92 93 94 95 96 97 98 99 100 101 102 103 104 105 106 107 108 109 110 111 112 113 [114] 115 116 117 118 119 120 121 122 123 124 125 126 127 128 129 130 131 132 133 134 135 136 137 138 139 140 141 142 143 0.0107 |
|